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title: 0h通用功能
description: "**表1 BMC SMC命令字-0h通用功能**"
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# 0h通用功能


**表1 BMC SMC命令字-0h通用功能**

| Command | M=0,S=1/ R=1,W=0/ Param | 述标准命令字 | 标准命令字描述 | 数据定义 | 数据定义 | 备注 |
| --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- |
| 1h | 0/1/0 | GET\_HARDWARE\_INFO | 查询硬件信息 | [15:8] | 保留/board\_id | [7:4] =4’b1 1620S =0 1620 [3:0] =4’b11 D =4’b10 C =4’b01 B =4’b00 A |
| 1h | 0/1/0 | GET\_HARDWARE\_INFO | 查询硬件信息 | [7:4] | BOM版本模组类型 | [7:4] =4’b1 1620S =0 1620 [3:0] =4’b11 D =4’b10 C =4’b01 B =4’b00 A |
| 1h | 0/1/0 | GET\_HARDWARE\_INFO | 查询硬件信息 | [3:0] | PCB版本 | [7:4] =4’b1 1620S =0 1620 [3:0] =4’b11 D =4’b10 C =4’b01 B =4’b00 A |
| 2h | 0/1/0 | GET\_SOFTWARE\_INFO | 查询软件信息 | [31:24] | RSV | \- |
| 2h | 0/1/0 | GET\_SOFTWARE\_INFO | 查询软件信息 | [23:16] | DFX的数据长度(N)\-最多255Bytes | \- |
| 2h | 0/1/0 | GET\_SOFTWARE\_INFO | 查询软件信息 | [15:8] | RSV | \- |
| 2h | 0/1/0 | GET\_SOFTWARE\_INFO | 查询软件信息 | [7:0] | 背板CPLD Ver（格式：高四位.低四位），如数据0x11代表1.01版本 | \- |
| 3h | 0/1/0 | GET\_COMPONENT\_MODE | 查询组件工作模式 | [7:0] | 查询组件当前工作模式 =0h \- 正常模式 =1h \- 装备测试模式 | \- |
| 3h | 1/0/1 | SET\_COMPONENT\_MODE | 设置组件工作模式 | [7:0] | 让组件进入生产测试模式，执行LED等测试项 =0h \- 正常模式 =1h \- 装备测试模式 | \- |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [127:112] | stby\_3v3 ADC采样电压\*2=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [111:96] | stby\_1v8 ADC采样电压\*1=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [95:80] | vcc\_12v0 ADC采样电压\*6=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [79:64] | 3V3\_vcc ADC采样电压\*2=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [63:48] | 0v9\_vddavs ADC采样电压\*1=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [47:32] | 1v8\_cpu ADC采样电压\*1=实际电压 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [31:16] | MOS附近板温 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 4h | 0/1/0 | GET\_SENSOR\_ALL | 获取所有传感器读值 | [15:0] | 电感背面板温 | ADC采样电压： 寄存器值/0x7fff\*2.5=采样电压 2N=18，N为设备个数 |
| 6h | 0/1/0 | GET\_COMPILE\_ALL | 查询固件开发时间 | [39:32] | 年 | 查询固件开发的时间 |
| 6h | 0/1/0 | GET\_COMPILE\_ALL | 查询固件开发时间 | [31:24] | 月 | 查询固件开发的时间 |
| 6h | 0/1/0 | GET\_COMPILE\_ALL | 查询固件开发时间 | [23:16] | 日 | 查询固件开发的时间 |
| 6h | 0/1/0 | GET\_COMPILE\_ALL | 查询固件开发时间 | [15:8] | 时 | 查询固件开发的时间 |
| 6h | 0/1/0 | GET\_COMPILE\_ALL | 查询固件开发时间 | [7:0] | 分 | 查询固件开发的时间 |
| 7h | 0/1/0 | GET\_DFX\_INFO | 获取DFX信息 | NA | 采用块读方案，DFX数据的长度在命令字GET\_SOFTWARE\_INFO中可以获取 | 产品CPLD存储数据，由产品硬件自定义。BMC集成此需求，CPLD需要支持该命令，可以全0；BMC软件在执行一键日志收集的时候通过该命令字将所有的硬件DFX信息收集下来，逻辑在该命令字的数据中填写所有有用的数据（即原CPLD全寄存器收集功能，逻辑命令字返回数据的合集），响应数据长度为82Byte。 |
| 8h | 0/1/0 | GET\_TEST\_REG | 查询Test寄存器 | [7:0] | 测试寄存器：55h或Aah | BMC：交替向Test寄存器中写入55h和Aah，再读取Test寄存器；组件：判断Test寄存器数值是否持续变化 |
| 8h | 1/0/1 | SET\_TEST\_REG | 设置Test寄存器 | [7:0] | 测试寄存器：55h或Aah | BMC：交替向Test寄存器中写入55h和Aah，再读取Test寄存器；组件：判断Test寄存器数值是否持续变化 |
| 9h | 0/1/0 | RSV | \- | \- | \- | \- |
| Ah | 0/1/0 | GET\_PWR\_STATUS | 查询组件上电标识 | [7:0] | =0h \- 没有正常上电 =1h \- 组件业务电所有电源已正常上电 | \- |
| Bh | 0/1/0 | GET\_EEPROM\_WP | 查询组件EEPROM写保护状态 | [7:0] | =0h \- 关闭写保护 =1h \- 打开写保护 | 此处的EEPROM是指存放CDR的EEPROM |
| Bh | 1/0/1 | SET\_EEPROM\_WP | 设置组件EEPROM写保护状态 | [7:0] | =0h \- 关闭写保护 =1h \- 打开写保护 | 此处的EEPROM是指存放CDR的EEPROM |